Kirjojen hintavertailu – 12 903 725 kirjaa ja 27 kauppaa
Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu – Harjinder Singh, kirjan kansikuva

Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu – hinnat ja saatavuus

Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9786205599921 (pokkari).

Kirjan kuvaus

O empilhamento face a face em Wafer to Wafer (WoW) pode ser feito para as interliga es de liga o directa Cu-Cu. Uma boa resist ncia mec nica para sustentar a for a de corte durante o desbaste pode ser conseguida atrav s da colagem de Cu.… Näytä koko kuvaus

O empilhamento face a face em Wafer to Wafer (WoW) pode ser feito para as interliga es de liga o directa Cu-Cu. Uma boa resist ncia mec nica para sustentar a for a de corte durante o desbaste pode ser conseguida atrav s da colagem de Cu. Ao mesmo tempo que fazer estruturas de interliga o fi veis tem sido um desafio persistente. A tens o resulta da deposi o de material, da desadequa o da expans o t rmica e da electromigra o. A deposi o de material gera inevitavelmente tens o. Materiais em estruturas de interliga o, seleccionados para funcionar como condutores, diel ctricos, ou barreiras, t m coeficientes de expans o t rmica diferentes. A for a motriz vem do stress acumulado devido ao crescimento do gr o e ao desfasamento da expans o t rmica (CTE) entre Cu interconectados e diel ctricos. O espa o vazio ent o criado a fim de libertar a tens o resultante. Tamb m o fen meno de electromigra o causado pelo stress actual e cria um espa o vazio. Assim, neste projecto, trabalhei no Voiding Induzido de Stress e Electromigra o da amostra de liga o directa Cu-Cu com temperatura de liga o de 300C.

Kirjan tiedot

ISBN 9786205599921
Kustantaja Edicoes Nosso Conhecimento
Vuosi 2023
Formaatti pokkari
Sivuja 56
Kieli portugali
Paino 95 g

Vertaa kirjan ”Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu” hintoja

Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9786205599921.

Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.

0 kirjakauppaa
Kauppa

Booky

Ei saatavilla

Suomalainen

Ei saatavilla

Kansallinen Kirjakauppa

Ei saatavilla

Prisma

Ei saatavilla

Finlandia Kirja

Ei saatavilla

Fantasiapelit

Ei saatavilla

Vinhan kirjakauppa

Ei saatavilla

CDON

Ei saatavilla

Kustantamo S&S

Ei saatavilla

Kennys.ie

Ei saatavilla

Kristillinenkirjakauppa.fi

Ei saatavilla

Sacrum

Ei saatavilla

Adlibris

Ei saatavilla

BookOutlet.fi

Ei saatavilla

Kirja.fi

Ei saatavilla

Rosebud

Ei saatavilla

Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.

Sisällytä toimituskulut hintaan

Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu – hintahistoria

Seuraamme kirjan Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.

Alin hinta kauppoittain

Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.