Kirjojen hintavertailu – 12 859 829 kirjaa ja 27 kauppaa
Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu – Harjinder Singh, kirjan kansikuva

Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu – hinnat ja saatavuus

Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9786205599921 (pokkari).

Kirjan kuvaus

O empilhamento face a face em Wafer to Wafer (WoW) pode ser feito para as interliga es de liga o directa Cu-Cu. Uma boa resist ncia mec nica para sustentar a for a de corte durante o desbaste pode ser conseguida atrav s da colagem de Cu.… Näytä koko kuvaus

O empilhamento face a face em Wafer to Wafer (WoW) pode ser feito para as interliga es de liga o directa Cu-Cu. Uma boa resist ncia mec nica para sustentar a for a de corte durante o desbaste pode ser conseguida atrav s da colagem de Cu. Ao mesmo tempo que fazer estruturas de interliga o fi veis tem sido um desafio persistente. A tens o resulta da deposi o de material, da desadequa o da expans o t rmica e da electromigra o. A deposi o de material gera inevitavelmente tens o. Materiais em estruturas de interliga o, seleccionados para funcionar como condutores, diel ctricos, ou barreiras, t m coeficientes de expans o t rmica diferentes. A for a motriz vem do stress acumulado devido ao crescimento do gr o e ao desfasamento da expans o t rmica (CTE) entre Cu interconectados e diel ctricos. O espa o vazio ent o criado a fim de libertar a tens o resultante. Tamb m o fen meno de electromigra o causado pelo stress actual e cria um espa o vazio. Assim, neste projecto, trabalhei no Voiding Induzido de Stress e Electromigra o da amostra de liga o directa Cu-Cu com temperatura de liga o de 300C.

Kirjan tiedot

ISBN 9786205599921
Kustantaja Edicoes Nosso Conhecimento
Vuosi 2023
Formaatti pokkari
Sivuja 56
Kieli portugali
Paino 95 g

Vertaa kirjan ”Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu” hintoja

Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9786205599921.

Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.

0 kirjakauppaa
Kauppa

Booky

—
—
Ei saatavilla

Suomalainen

—
—
Ei saatavilla

Kansallinen Kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

Prisma

—
—
Ei saatavilla

Finlandia Kirja

—
—
Ei saatavilla

Fantasiapelit

—
—
Ei saatavilla

Vinhan kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

CDON

—
—
Ei saatavilla

Kustantamo S&S

—
—
Ei saatavilla

Kennys.ie

—
—
Ei saatavilla

Kristillinenkirjakauppa.fi

—
—
Ei saatavilla

Sacrum

—
—
Ei saatavilla

Adlibris

—
—
Ei saatavilla

BookOutlet.fi

—
—
Ei saatavilla

Kirja.fi

—
—
Ei saatavilla

Rosebud

—
—
Ei saatavilla

Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.

€
Sisällytä toimituskulut hintaan

Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu – hintahistoria

Seuraamme kirjan Análise de Vazamento Induzido por Stress e Electromigração das ligações Cu-Cu hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.

Alin hinta kauppoittain

Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.