Kirjojen hintavertailu – 12 903 735 kirjaa ja 27 kauppaa
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 – Pierre-Richard Dahoo, kirjan kansikuva

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 – hinnat ja saatavuus

Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9781786306876 (sidottu).

Kirjan kuvaus

Nanoscience, nanotechnologies and the laws of quantum physics are sources of disruptive innovation that open up new fields of application. Quantum engineering enables the development of very sensitive materials, sensor measurement systems… Näytä koko kuvaus

Nanoscience, nanotechnologies and the laws of quantum physics are sources of disruptive innovation that open up new fields of application. Quantum engineering enables the development of very sensitive materials, sensor measurement systems and computers. Quantum computing, which is based on two-level systems, makes it possible to manufacture computers with high computational power. This book provides essential knowledge and culminates with an industrial application of quantum engineering and nanotechnologies. It presents optical systems for measuring at the nanoscale, as well as quantum physics models that describe how a two-state system interacts with its environment. The concept of spin and its derivation from the Dirac equation is also explored, while theoretical foundations and example applications aid in understanding how a quantum gate works. Application of the reliability-based design optimization (RBDO) method of mechanical structures is implemented, in order to ensure reliability of estimates from the measurement of mechanical properties of carbon nanotube structures. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master?s students.

Kirjan tiedot

ISBN 9781786306876
Kustantaja ISTE Ltd
Vuosi 2021
Formaatti sidottu
Sivuja 288
Kieli Englanti
Paino 454 g

Vertaa kirjan ”Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2” hintoja

Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9781786306876.

Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.

0 kirjakauppaa
Kauppa

Booky

—
—
Ei saatavilla

Suomalainen

—
—
Ei saatavilla

Kansallinen Kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

Prisma

—
—
Ei saatavilla

Finlandia Kirja

—
—
Ei saatavilla

Fantasiapelit

—
—
Ei saatavilla

Vinhan kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

CDON

—
—
Ei saatavilla

Kustantamo S&S

—
—
Ei saatavilla

Kennys.ie

—
—
Ei saatavilla

Kristillinenkirjakauppa.fi

—
—
Ei saatavilla

Sacrum

—
—
Ei saatavilla

Adlibris

—
—
Ei saatavilla

BookOutlet.fi

—
—
Ei saatavilla

Kirja.fi

—
—
Ei saatavilla

Rosebud

—
—
Ei saatavilla

Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.

€
Sisällytä toimituskulut hintaan

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 – hintahistoria

Seuraamme kirjan Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.

Alin hinta kauppoittain

Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.