Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis – hinnat ja saatavuus
Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9780387857305 (sidottu).
Kirjan kuvaus
Scanning electr on microscopy (SEM) and x-ray microanalysis can produce magnified images and in situ chemical information from virtually any type of specimen. The two instruments generally operate in a high vacuum and a very dry… Näytä koko kuvaus Piilota kuvaus
Scanning electr on microscopy (SEM) and x-ray microanalysis can produce magnified images and in situ chemical information from virtually any type of specimen. The two instruments generally operate in a high vacuum and a very dry environment in order to produce the high energy beam of electrons needed for imaging and analysis. With a few notable exceptions, most specimens destined for study in the SEM are poor conductors and composed of beam sensitive light elements containing variable amounts of water. In the SEM, the imaging system depends on the specimen being sufficiently electrically conductive to ensure that the bulk of the incoming electrons go to ground. The formation of the image depends on collecting the different signals that are scattered as a consequence of the high energy beam interacting with the sample. Backscattered electrons and secondary electrons are generated within the primary beam-sample interactive volume and are the two principal signals used to form images. The backscattered electron coefficient ( ? ) increases with increasing atomic number of the specimen, whereas the secondary electron coefficient ( ? ) is relatively insensitive to atomic number. This fundamental diff- ence in the two signals can have an important effect on the way samples may need to be prepared. The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.
Kirjan tiedot
Vertaa kirjan ”Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” hintoja
Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9780387857305.
Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.
Booky
Suomalainen
Kansallinen Kirjakauppa
Prisma
Finlandia Kirja
Fantasiapelit
Vinhan kirjakauppa
CDON
Kustantamo S&S
Kennys.ie
Kristillinenkirjakauppa.fi
Sacrum
Adlibris
BookOutlet.fi
Kirja.fi
Rosebud
Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.
Hintoja ei ole vielä päivitetty.
Hälytys tallennettu!
Ilmoitamme, kun hinta laskee.
Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.
Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis – hintahistoria
Seuraamme kirjan Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.
Alin hinta kauppoittain
Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.
Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.
Hinnat ilman toimituskuluja.