High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability – hinnat ja saatavuus
Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9781489988478 (nidottu).
Muut painokset ja formaatit
Kirjan kuvaus
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is… Näytä koko kuvaus Piilota kuvaus
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay tests such as robust path delay tests, as well as tests with long propagation paths to detect small delay defects. The aim of the techniques and methodologies presented in this book is to improve SAT-based ATPG, in order to make it applicable in industrial practice. Readers will learn to improve the performance and robustness of the overall test generation process, so that the ATPG algorithm reliably will generate test patterns for most targeted faults in acceptable run time to meet the high fault coverage demands of industry. The techniques and improvements presented in this book provide the following advantages: Provides a comprehensive introduction to test generation and Boolean Satisfiability (SAT); Describes a highly fault efficient SAT-based ATPG framework; Introduces circuit-oriented SAT solving techniques, which make use of structural information and are able to accelerate the search process significantly;Provides SAT formulations for the prevalent delay faults models, in addition to the classical stuck-at fault model;Includes an industrial perspective on the state-of-the-art in the testing, along with SAT; two topics typically distinguished from each other.
Kirjan tiedot
Vertaa kirjan ”High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability” hintoja
Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9781489988478.
Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.
Booky
Suomalainen
Kansallinen Kirjakauppa
Prisma
Finlandia Kirja
Fantasiapelit
Vinhan kirjakauppa
CDON
Kustantamo S&S
Kennys.ie
Kristillinenkirjakauppa.fi
Sacrum
Adlibris
BookOutlet.fi
Kirja.fi
Rosebud
Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.
Hintoja ei ole vielä päivitetty.
Hälytys tallennettu!
Ilmoitamme, kun hinta laskee.
Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability – hintahistoria
Seuraamme kirjan High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.
Alin hinta kauppoittain
Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.
Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.
Hinnat ilman toimituskuluja.