Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs – hinnat ja saatavuus
Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 26 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9783030683672 (sidottu).
Kirjan kuvaus
This book evaluates the influence of process variations (e.g. work-function fluctuations) and radiation-induced soft errors in a set of logic cells using FinFET technology, considering the 7nm technological node as a case study. Moreover,… Näytä koko kuvaus Piilota kuvaus
This book evaluates the influence of process variations (e.g. work-function fluctuations) and radiation-induced soft errors in a set of logic cells using FinFET technology, considering the 7nm technological node as a case study. Moreover, for accurate soft error estimation, the authors adopt a radiation event generator tool (MUSCA SEP3), which deals both with layout features and electrical properties of devices. The authors also explore four circuit-level techniques (e.g. transistor reordering, decoupling cells, Schmitt Trigger, and sleep transistor) as alternatives to attenuate the unwanted effects on FinFET logic cells. This book also evaluates the mitigation tendency when different levels of process variation, transistor sizing, and radiation particle characteristics are applied in the design. An overall comparison of all methods addressed by this work is provided allowing to trace a trade-off between the reliability gains and the design penalties of each approach regardingthe area, performance, power consumption, single event transient (SET) pulse width, and SET cross-section.
Kirjan tiedot
Vertaa kirjan ”Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs” hintoja
Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9783030683672.
Booky
Suomalainen
Kansallinen Kirjakauppa
Prisma
Finlandia Kirja
Fantasiapelit
Vinhan kirjakauppa
CDON
Kennys.ie
Kristillinenkirjakauppa.fi
Sacrum
Adlibris
BookOutlet.fi
Kirja.fi
Rosebud
Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.
Hintoja ei ole vielä päivitetty.
Hälytys tallennettu!
Ilmoitamme, kun hinta laskee.
Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.
Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs – hintahistoria
Seuraamme kirjan Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.
Alin hinta kauppoittain
Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.
Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.
Hinnat ilman toimituskuluja.