Kirjojen hintavertailu – 12 903 725 kirjaa ja 27 kauppaa
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis – Joseph Goldstein, kirjan kansikuva

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis – hinnat ja saatavuus

A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9781461276531 (nidottu).

Kirjan kuvaus

In the last decade, since the publication of the first edition of Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic SEM and EPMA. High­ resolution imaging has been… Näytä koko kuvaus

In the last decade, since the publication of the first edition of Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic SEM and EPMA. High­ resolution imaging has been developed with the aid of an extensive range of field emission gun (FEG) microscopes. The magnification ranges of these instruments now overlap those of the transmission electron microscope. Low-voltage microscopy using the FEG now allows for the observation of noncoated samples. In addition, advances in the develop­ ment of x-ray wavelength and energy dispersive spectrometers allow for the measurement of low-energy x-rays, particularly from the light elements (B, C, N, 0). In the area of x-ray microanalysis, great advances have been made, particularly with the "phi rho z" [Ij)(pz)] technique for solid samples, and with other quantitation methods for thin films, particles, rough surfaces, and the light elements. In addition, x-ray imaging has advanced from the conventional technique of "dot mapping" to the method of quantitative compositional imaging. Beyond this, new software has allowed the development of much more meaningful displays for both imaging and quantitative analysis results and the capability for integrating the data to obtain specific information such as precipitate size, chemical analysis in designated areas or along specific directions, and local chemical inhomogeneities.

Kirjan tiedot

ISBN 9781461276531
Kustantaja Springer-Verlag New York Inc.
Vuosi 2011
Formaatti nidottu
Sivuja 840
Kieli Englanti
Paino 310 g

Vertaa kirjan ”Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis” hintoja

Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9781461276531.

Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.

0 kirjakauppaa
Kauppa

Booky

—
—
Ei saatavilla

Suomalainen

—
—
Ei saatavilla

Kansallinen Kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

Prisma

—
—
Ei saatavilla

Finlandia Kirja

—
—
Ei saatavilla

Fantasiapelit

—
—
Ei saatavilla

Vinhan kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

CDON

—
—
Ei saatavilla

Kustantamo S&S

—
—
Ei saatavilla

Kennys.ie

—
—
Ei saatavilla

Kristillinenkirjakauppa.fi

—
—
Ei saatavilla

Sacrum

—
—
Ei saatavilla

Adlibris

—
—
Ei saatavilla

BookOutlet.fi

—
—
Ei saatavilla

Kirja.fi

—
—
Ei saatavilla

Rosebud

—
—
Ei saatavilla

Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.

€
Sisällytä toimituskulut hintaan

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis – hintahistoria

Seuraamme kirjan Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.

Alin hinta kauppoittain

Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.