Friedrich Beck

Vita nuova; - Kritischer Text unter Benutzung von 35 behannten Handschriften ist ein unver nderter, hochwertiger Nachdruck der Originalausgabe aus dem Jahr 1896. Hansebooks ist Herausgeber von Literatur zu unterschiedlichen Themengebieten wie Forschung und Wissenschaft, Reisen und Expeditionen, Kochen und Ern hrung, Medizin und weiteren Genres. Der Schwerpunkt des Verlages liegt auf dem Erhalt historischer Literatur. Viele Werke historischer Schriftsteller und Wissenschaftler sind heute nur noch als Antiquit ten erh ltlich. Hansebooks verlegt diese B cher neu und tr gt damit zum Erhalt selten gewordener Literatur und historischem Wissen auch f r die Zukunft bei.

Das Entziffern historischer Schriftzeugnisse ist Voraussetzung fur das Verstehen und die Interpretation schriftlich uberlieferter Vergangenheit. Im deutschen Sprachgebiet sind uns heute aber bereits die Buchstaben eines siebzig Jahre alten Buches fremd. Das vorliegende Werk schildert die Entwicklung der Lateinischen Schrift bis zum uns gelaufigen Normalalphabet in Handschrift und Druck. Die Autoren legen dabei den Schwerpunkt auf die Jahrhunderte vom spaten Mittelalter bis zur Gegenwart, aus denen die uberwiegende Mehrheit des Geschriebenen uberliefert ist. Neben den Buch- und Urkundenschriften werden die kursiven Geschaftsschriften, die individuellen Handschriften bedeutender Personlichkeiten sowie die Aufspaltung der ursprunglich einheitlichen Lateinischen Schrift in die sogenannte deutsche Schrift und die lateinische Schrift (Antiqua) dargestellt. Ein umfangreicher Dokumentationsteil bietet etwa 250 inhaltlich interessante und regional breitgestreute Beispiele aus Archiven des deutschen Sprachraums jeweils im Bild sowie in buchstabengetreuer Abschrift. Das Buch bietet damit nicht nur einen Beitrag zur palaographischen Fachliteratur, sondern ist zugleich ein Lese- und Ubungsbuch fur historisch Interessierte sowie fur Archivbenutzer.

Fault analysis of highly-integrated semiconductor circuits has become an indispensable discipline in the optimization of product quality. Integrated Circuit Failure Analysis describes state-of-the-art procedures for exposing suspected failure sites in semiconductor devices. The author adopts a hands-on problem-oriented approach, founded on many years of practical experience, complemented by the explanation of basic theoretical principles. Features include: Advanced methods in device preparation and technical procedures for package inspection and semiconductor reliability. Illustration of chip isolation and step-by-step delayering of chips by wet chemical and modern plasma dry etching techniques. Particular analysis of bipolar and MOS circuits, although techniques are equally relevant to other semiconductors. Advice on the choice of suitable laboratory equipment. Numerous photographs and drawings providing guidance for checking results. Focusing on modern techniques, this practical text will enable both academic and industrial researchers and IC designers to expand the range of analytical and preparative methods at their disposal and to adapt to the needs of new technologies.