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Kirjailija

Matthias Thiele

Kirjat ja teokset yhdessä paikassa: 18 kirjaa, julkaisuja vuosilta 2007–2026, suosituimpiin kuuluu Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design. Vertaile teosten hintoja ja tarkista saatavuus suomalaisista kirjakaupoista.

18 kirjaa

Kirjojen julkaisuvuodet: 2007–2026.

Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Lienig Jens; Susann Rothe; Matthias Thiele

Springer International Publishing AG
2026
Nidottu
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Jens Lienig; Susann Rothe; Matthias Thiele

Springer International Publishing AG
2025
sidottu
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. This second edition has been updated to introduce recent advancements in the understanding of the physical process of electromigration, which gives the reader the knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.
Tagebuch eines Ausreißers

Tagebuch eines Ausreißers

Mads Telli; Matthias Thiele

Books on Demand
2024
pokkari
Die pers nlichen Aufzeichnungen Mads Tellis zu nahezu allem - Metaphysik, Zeitgeschehen, Erotik, Kunst und Literatur: sehns chtige, ironische und kritische Blicke aus der seelischen Ferne des Ausrei ers auf die Dinge, die Menschen umtreiben. Psychologie ist Kunst, ist Poesie - wenn man es will. "Der Begriff des Ausrei ers l sst an ausb xende Kinder oder statistische Messwerte au erhalb eines Erwartungsbereichs denken. Ausrei er stellen jene Ordnungssysteme, deren Teil sie sind oder sein sollen, durch ihr Sein in Frage. Ihre Individualit t berwiegt. Sie sind und bleiben Ausnahmen. Ausnahmen, die, weil sie Tatsachen sind, die Quelle von Kreativit t im Individuellen wie im Kollektiven sind. Sie sind Nochniedagewesene und bringen Nochniedagewesenes hervor. Ihre Werke und Taten sagen: Ohne Freiheit bist du nichts. Aber ohne Freiheit sind auch keine Kulturen m glich. Das organisierte Zusammenleben der Menschen mit all seinen Strukturen, sozialen Rollen, seinen metaphysischen und weltlichen Erz hlungen, die Menschen zu Einwohnern derselben Sph re machen, war und ist der vermutlich folgenreichste kreative Akt, den wir ber die Jahrtausende hervorgebracht haben. Am Anfang standen die Ausrei er, stand das Unwahrscheinliche, Ungedachte, die Ausnahme."
Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

Jens Lienig; Matthias Thiele

Springer Nature Switzerland AG
2018
nidottu
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.