Kirjojen hintavertailu – 12 903 725 kirjaa ja 27 kauppaa
Fundamentals of  Nanoscale Film Analysis – Terry L. Alford, kirjan kansikuva

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis – hinnat ja saatavuus

Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9780387292601 (sidottu).

Muut painokset ja formaatit

Kirjan kuvaus

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale.… Näytä koko kuvaus

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons. The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures. These induced reactions lead to the emission of a variety of detected of particles and photons. It is the energy and intensity of the detected beams that is the basis of the characterization of the materials. The array of experimental techniques used in nanoscale materials analysis covers a wide range of incident particle and detected beam interactions. Included are such important interactions as atomic collisions, Rutherford backscattering, ion channeling, diffraction, photon absorption, radiative and nonradiative transitions, and nuclear reactions. A variety of analytical and scanning probe microscopy techniques are presented in detail.

Kirjan tiedot

ISBN 9780387292601
Kustantaja Springer-Verlag New York Inc.
Vuosi 2007
Formaatti sidottu
Sivuja 336
Kieli Englanti
Paino 446 g

Vertaa kirjan ”Fundamentals of Nanoscale Film Analysis” hintoja

Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9780387292601.

Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.

0 kirjakauppaa
Kauppa

Booky

—
—
Ei saatavilla

Suomalainen

—
—
Ei saatavilla

Kansallinen Kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

Prisma

—
—
Ei saatavilla

Finlandia Kirja

—
—
Ei saatavilla

Fantasiapelit

—
—
Ei saatavilla

Vinhan kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

CDON

—
—
Ei saatavilla

Kustantamo S&S

—
—
Ei saatavilla

Kennys.ie

—
—
Ei saatavilla

Kristillinenkirjakauppa.fi

—
—
Ei saatavilla

Sacrum

—
—
Ei saatavilla

Adlibris

—
—
Ei saatavilla

BookOutlet.fi

—
—
Ei saatavilla

Kirja.fi

—
—
Ei saatavilla

Rosebud

—
—
Ei saatavilla

Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.

€
Sisällytä toimituskulut hintaan

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis – hintahistoria

Seuraamme kirjan Fundamentals of Nanoscale Film Analysis hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.

Alin hinta kauppoittain

Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.