Kirjojen hintavertailu – 12 859 829 kirjaa ja 27 kauppaa
Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis – Zhong Lin Wang, kirjan kansikuva

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis – hinnat ja saatavuus

Kirjafiili on kirjojen hintavertailu. Löydä halvin hinta 27 kirjakaupasta. Hintavertailu koskee ISBN-tunnusta 9780521482660 (sidottu).

Muut painokset ja formaatit

Kirjan kuvaus

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for… Näytä koko kuvaus

In this book the theories, techniques and applications of reflection electron microscopy (REM), reflection high-energy electron diffraction (RHEED) and reflection electron energy-loss spectroscopy (REELS) are comprehensively reviewed for the first time. The book is divided into three parts: diffraction, imaging and spectroscopy. The text is written to combine basic techniques with special applications, theories with experiments, and the basic physics with materials science, so that a full picture of RHEED and REM emerges. An entirely self-contained study, the book contains much invaluable reference material, including FORTRAN source codes for calculating crystal structures data and electron energy loss spectra in different scattering geometries. This and many other features make the book an important and timely addition to the materials science literature.

Kirjan tiedot

ISBN 9780521482660
Kustantaja Cambridge University Press
Vuosi 1996
Formaatti sidottu
Sivuja 458
Kieli Englanti
Paino 930 g

Vertaa kirjan ”Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis” hintoja

Vertaa tuotteen hintaa ja arvioitua kokonaishintaa toimitettuna. Kaikki hinnat koskevat ISBN-tunnusta 9780521482660.

Hintoja ei päivitetty automaattisesti. Voit hakea ajantasaiset hinnat painamalla Hae hinnat.

0 kirjakauppaa
Kauppa

Booky

—
—
Ei saatavilla

Suomalainen

—
—
Ei saatavilla

Kansallinen Kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

Prisma

—
—
Ei saatavilla

Finlandia Kirja

—
—
Ei saatavilla

Fantasiapelit

—
—
Ei saatavilla

Vinhan kirjakauppa

—
—
Ei saatavilla

CDON

—
—
Ei saatavilla

Kustantamo S&S

—
—
Ei saatavilla

Kennys.ie

—
—
Ei saatavilla

Kristillinenkirjakauppa.fi

—
—
Ei saatavilla

Sacrum

—
—
Ei saatavilla

Adlibris

—
—
Ei saatavilla

BookOutlet.fi

—
—
Ei saatavilla

Kirja.fi

—
—
Ei saatavilla

Rosebud

—
—
Ei saatavilla

Tälle kirjalle ei ole tällä hetkellä vahvistettua hintaa. Tarkista tilanne myöhemmin uudelleen.

Hintoja ei ole vielä päivitetty.

Saat sähköpostin, kun hinta laskee asettamaasi rajaan tai sen alle.

€
Sisällytä toimituskulut hintaan

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis – hintahistoria

Seuraamme kirjan Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis hintakehitystä kirjakaupoissa. Taulukosta näet viime kuukausien alimmat hinnat.

Alin hinta kauppoittain

Kunkin kaupan alin hinta viimeisten 90 päivän aikana.

Hintahistoriaa ei ole vielä kerätty tälle kirjalle.

Hinnat ilman toimituskuluja.